Felületfizikai kutatások

XPS: Röntgen-fotoelektron spektroszkópia, Auger elektron spektroszkópia

Alkalmazási területek: Felületi szennyeződések kimutatása, Korróziós folyamatok vizsgálata, Diffúziós és határfelületi jelenségek vizsgálata, Vékonyrétegek vizsgálata, Kilépési munka mérése, Nanotechnológiai kutatások, Félvezető-technológia; Főbb paraméterek: Energiaanalizátor: Specs Phoibos 150, Röntgen forrás: Thermo XR4, Electron ágyú: VG Microtech LEG200; Kapcsolat: Dr. Krafcsik Olga: krafcsik@eik.bme.hu, Dobos Gábor: dobosg@eik.bme.hu

Pásztázószondás mikroszkópia alkalmazása

A kutatás célja nagyfelbontású atomerő mikroszkópos képek készítése nanostruktúrákról, anyagtudományi vagy éppen biológiai mintákról egy Bruker Dimension Icon készülék segítségével. Az eszköz 210 mm átmérőjű általános felhasználású vákuum próbatartóval van ellátva, így biztosítva a nagy felületen történő mérések lehetőségét. Kutatásainkra levegő és folyadék közegben is sor kerülhet. A topológiai képalkotás mellett az anyagok nanoelektromos és nanomechanikus tulajdonságit is kutatjuk. Kapcsolat: Dr. Lenk Sándor: lenk@eik.bme.hu

CVD-technika: Gyémántrétegek szintézise

Gyémánt-fázisú vékonyrétegek CVD-vel (Kémia Gőzfázisú Leválasztás) történő szintetizálásának alap- és alkalmazott kutatási területeivel foglalkozunk: mikro- nano- ultrananokristályos gyémántfázisok kialakulásának vizsgálata; MEMS-, szenzorikai-, ill. 3D bevonatolási alkalmazások, szelektív területi leválasztás, passziváló bevonatok; fotonikai-kvantumoptikai kutatási irány: különböző gyémántstruktúrákban adalékolási technikákkal in-situ módon kialakított aktív színcentrumok szintetizálásának alap- és alkalmazott kutatási területei; A 2020-as évtől a Wigner FK-val történt együttműködés keretében egy új, kompakt, moduláris felépítésű CVD berendezést építettünk a Szilárdtestfizikai és Optikai Intézet Alkalmazott és Nemlineáris Optikai Osztályán, mely együttműködés keretében a téma kutatása és a berendezés üzemeltetése a továbbiakban a Wigner FK területén , tanszékünkkel együttműködésben történik. Kapcsolat: Csíkvári Péter (BME): raman@freemail.hu, Dr. Himics László (Wigner-FK): himics.laszlo@wigner.hu  

LIBS: Lézerindukált plazma spektroszkópia

A LIBS technika (lézer-indukált letörési spektroszkópia) egy rendkívül sokoldalú anyagvizsgálati módszer. Egy nagy energiájú rövid lézerimpulzust a mintára fókuszálva anyagának kis része elpárolog és plazmává alakul. Ennek színképét elemezve megállapítható a minta összetétele. Az Atomfizika Tanszék LIBS berendezése egy Andor iStar 734 ICCD kamerával szerelt Andor Mechelle 5000 echelle spektrográfra, egy Quantel Brilliant és egy EKSPLA NL300 Nd:YAG lézerre épül. Rendelkezésre áll még egy PortaLIBS-2000 hordozható LIBS berendezés is. Föbb kutatási irányok: LIBS módszer fejlesztése, kombinált Raman-LIBS méréstechnika Kapcsolat: Gádoros Patrik: gadorosp@eik.bme.hu

Számítógépes anyagtudomány

Szerkesztés alatt!