A projektben kifejlesztünk és optimalizálunk egy új típusú, véletlen hozzáférésű 3D kétfoton  mikroszkópot, amely lézernyalábot pásztázva három egymástól viszonylag távol eső, de funkcionálisan összefüggő központi idegrendszeri terület három tengely menti letapogatását és aktivitás-mérését végzi (3x3D rendszer).

A 3x3D rendszer paramétereit elsőként a retina, az oldalsó geniculatus mag és az agykérgi látóközpont egyidejű mérésével és foto-stimulációjával szeretnénk kimérni és optimalizálni.

A kétfoton mikroszkópia ultrarövid (~100 fs) impulzussal kétfoton effektust hoz létre és gerjeszti a festékkel töltött mintát – mélységi szelektivitást is lehetővé tesz a kétfoton effektus nemlineáris jellege miatt

Akusztooptikai szkennerek kétfoton mikroszkópiához. A képet a lézernyaláb szögelfordításával (szkennelésével) kapjuk, amelyet az objektív fókuszpont-transzlációvá transzformál.