Az Atomfizika tanszék fizikai optika laborjának fő kutatási területei az optikai és lézerfizikai alkalmazások, technológiai fejlesztések és optikai elven működő diagnosztikai mérőberendezések fejlesztése. Kutatási profil:

Optikai adattárolás, akusztooptikai modulátorok, deflektorok, Q-kapcsolók, mode-locker-ek, fsec impulzusalak formálók szûrõk, Integrált optikai, hullámvezetõ eszközök, száloptikai rendszerek, optikai jelfeldolgozás, új optikai technológiák, optikai rendszerek modellezése és tervezése, nemlineáris optikai eszközök, biológiai anyagok fotoakusztikai és idõfelbontásos fluoreszcens spektroszkópiája, fényforrások, optikai méréstechnikák, optikai orvosdiagnosztikai eljárások, lézeres anyagmegmunkálás, koherens infravörös differenciális abszorpciós LIDAR, holográfia, spektroszkópiai méréstechnikák (NIR, VIS,fluoreszcencia, LIBS,színmérés), displayek, napelemek.

Az Atomfizika Tsz. felületfizikai laboratóriumában végzett kutatások tárgya az alkalmazott anyagtudományi vizsgálatok, funkcionális anyagok vizsgálata, speciális méréstechnika módszerek és mérőberendezések kifejlesztése. Főbb kutatási területek:

Szilárdtestekben elõforduló hibák és felületek tulajdonságainak vizsgálata kvantummechanikai számításokkal, felületi összetevõk vizsgálata szekunder-ion tömegspektroszkópiai (SIMS), Auger elektronspektroszkópiai (AES, SAM) és röntgen fotoemissziós spektroszkópiai (XPS) módszerekkel, in situ plazmadiagnosztika és gázanalízis QMS-sel (IBMS), széles tiltottsávú félvezetõk alkalmazásorientált vizsgálata, félvezetõ oxidok gázszenzorként való alkalmazásának vizsgálata, szilárd elektrolit kondenzátoroknak használt új anódanyagok oxidációs tulajdonságainak vizsgálata, korrózió és szennyezõdés vizsgálata kisüléses lámpákban, hõátadás kísérleti és elméleti vizsgálata plazmákban és szerkezeti anyagokban, funkcionális üvegbevonatok kísérleti és elméleti vizsgálata, kvadrupól tömegszűrők, SIMS berendezések valamint GC/MS tömegspektroéterek tervezése, ion és elektron optikák tervezése, Számítógépes programok készítése adatgyûjtésre és kiértékelésre, szabályozásra és képfeldolgozásra, Félvezető méréstechnika.