XPS: Röntgen-fotoelektron spektroszkópia, Auger elektron spektroszkópia

Alkalmazási területek: Felületi szennyeződések kimutatása, Korróziós folyamatok vizsgálata, Diffúziós és határfelületi jelenségek vizsgálata, Vékonyrétegek vizsgálata, Kilépési munka mérése, Nanotechnológiai kutatások, Félvezető-technológia;

Főbb paraméterek: Energiaanalizátor: Specs Phoibos 150, Röntgen forrás: Thermo XR4, Electron ágyú: VG Microtech LEG200;

Kapcsolat: Dr. Krafcsik Olga: krafcsik@eik.bme.hu, Dobos Gábor: dobosg@eik.bme.hu

 

XPS1.png

XPS2.png

XPS3.png

 

Kutatási terület: 
Anyagtudomány